技術服務
您的當前位置:首頁 > 開發中心 > 技術服務

       綜合利用光學顯微鏡、X射線衍射儀、電子顯微鏡等先進設備,對客戶玻璃中的缺陷進行解析,協助客戶以解決相關的技術問題。

       掃描電子顯微鏡(SEM-EDS)簡介:

       工作原理:極細的電子束逐行掃于樣品表面,產生二次電子、背散射電子和特征X射線,接收各種電子信號,處理后得到樣品表面形貌、組成圖像和微區化學成分的信息。

 

 

未標題-1.jpg 

 


SEM-EDS性能:

放大倍率:30-300,000

圖像模式:SEI BEI

檢測范圍:F-U

 

 常見的玻璃缺陷照片

 [CropImg]幻燈片2.JPG

玻璃缺陷解析手法示例

幻燈片3.JPG

首頁公司介紹產品領域開發中心員工專欄人才招聘聯系我們 |
Copyright ZAC 2012 All Right Reserved
天龙八部怎么升级赚钱